用探測(cè)面為平面的對(duì)比試塊中 φ 2mm平底孔校準(zhǔn)的探傷靈敏度,去探測(cè)一個(gè)探測(cè)面為圓柱面的試件,發(fā)現(xiàn)
2021-05-08
用探測(cè)面為平面的對(duì)比試塊中 φ 2mm平底孔校準(zhǔn)的探傷靈敏度，去探測(cè)一個(gè)探測(cè)面為圓柱面的試件，發(fā)現(xiàn)一個(gè)深度和回波高度均與試塊相同的缺陷，則該缺陷的當(dāng)量。（ ）
A.等于φ2mm平底孔
B.比φ2mm平底孔大
C.比φ2mm平底孔小
D.不小于φ2mm平底孔
正確答案：B
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